Máy quét siêu âm phát hiện lỗi pin gây cháy chỉ trong vài giây

Các nhà nghiên cứu tại Đại học Drexel đã phát triển một công cụ chẩn đoán mới dựa trên siêu âm, có khả năng phát hiện nhanh các khuyết tật bên trong pin lithium-ion, như các túi khí, lỗi cấu trúc, vùng khô và các thành phần bị lệch. Những khuyết tật này có thể dẫn đến sự cố pin, quá nhiệt hoặc hiện tượng mất kiểm soát nhiệt, gây ra các rủi ro an toàn nghiêm trọng cho các thiết bị từ điện thoại thông minh đến xe điện. Khác với kỹ thuật chụp X-quang truyền thống, vốn chậm, tốn kém và hạn chế về phạm vi, kỹ thuật siêu âm này sử dụng kính hiển vi âm thanh quét để gửi sóng âm năng lượng thấp qua các tế bào pin, từ đó tiết lộ các đặc điểm cơ học và cấu trúc bên trong mà không làm gián đoạn chức năng của pin. Phương pháp mới này giải quyết những hạn chế của các kiểm tra chất lượng hiện tại, vốn dựa vào kiểm tra bằng mắt, thử nghiệm mẫu và chụp X-quang, bằng cách cung cấp một giải pháp nhanh hơn, chi phí thấp hơn và nhạy bén hơn. Với sự phát triển nhanh chóng của các thiết bị sử dụng pin và xe điện, nguy cơ các tế bào pin lỗi lọt vào thị trường đã tăng lên, khiến việc cải thiện phương pháp phát hiện trở nên vô cùng quan trọng. Nhóm nghiên cứu tại Drexel cũng đã tạo ra phần mềm mã nguồn mở để điều khiển thiết bị siêu âm và hỗ trợ phân tích dữ liệu nhanh chóng, nhằm mục đích...