Nghiên cứu của Mỹ cho thấy pin ion kẽm trở nên mạnh mẽ hơn khi sạc nhanh

Một nhóm nghiên cứu tại Mỹ do Hailong Chen dẫn đầu tại Georgia Tech đã phát hiện ra rằng việc sạc nhanh pin ion kẽm thực sự làm tăng độ bền của chúng, trái ngược với quan niệm phổ biến rằng sạc nhanh làm giảm tuổi thọ pin. Pin ion kẽm, vốn dồi dào, chi phí thấp, không dễ cháy và thân thiện với môi trường hơn so với pin ion lithium, đã bị hạn chế bởi sự phát triển của các tinh thể kim kẽm dạng kim (dendrite) — những mảng kẽm hình kim gây ra chập mạch và làm giảm hiệu suất pin. Nghiên cứu cho thấy việc sạc với dòng điện cao hơn ngăn chặn sự hình thành dendrite, tạo ra các lớp kẽm mịn, dày đặc giúp tăng tuổi thọ và độ an toàn của pin. Các nhà nghiên cứu đã phát triển một công cụ mới để quan sát hành vi của kẽm dưới các tốc độ sạc khác nhau theo thời gian thực, giúp họ xác định lý do tại sao sạc nhanh ngăn chặn sự phát triển của dendrite. Trong khi đột phá này giải quyết vấn đề ở phía cực âm của pin, các nỗ lực vẫn đang tiếp tục nhằm cải thiện cực dương và độ bền tổng thể của pin, bao gồm thử nghiệm các hợp chất kẽm pha trộn. Tiến bộ này có thể tác động đáng kể đến các giải pháp lưu trữ năng lượng, làm cho pin ion kẽm trở nên khả thi cho các ứng dụng như lưu trữ năng lượng mặt trời tại nhà và ổn định lưới điện, mang lại...